更新時間:2024-11-06
橡膠硬度計XHS-D 測量硬質橡膠、塑料材料硬度的試驗儀器。 執行標準:GB/T2411、JJG1039。 硬度計表頭可安裝在定負荷測定架上,在實驗室內對硬質橡膠、塑料材料標準試片測定其標準硬度,也可手持硬度計表頭在生產車間及承裝在設備上的橡塑材料進行測定其表面硬度。
橡膠硬度計XHS-D
測量硬質橡膠、塑料材料硬度的試驗儀器。
執行標準:GB/T2411、JJG1039。
橡膠硬度計XHS-D 主要技術參數:
壓針行程:0-2.5mm
硬度顯示范圍:0-100度
試樣厚度:≥4mm(可兩層疊加)
三種硬度計的適應范圍:
1、XHS-A:常規硬度計,試驗準確區域值為20-85度
2、XHS-D:高值硬度計,試驗準確區域值為20-80度(當A型硬度在85度以上,應采用D型測量)
3、XHS-W:低值硬度計,試驗準確區域值為20-85度(當A型硬度在35度以下,應采用W型測量)
產品名稱:電阻率方塊電阻測試儀 產品型號:KDB-1 |
本方阻測試新產品為薄膜測試提供機械、電氣兩方面的保護,在寬廣的量程范圍內,使各種電子薄膜能得到準確、無損的方塊電阻測量結果。
由于新型薄膜材料種類繁多,研制過程中樣品性能變化較大,而且各種薄膜的機械強度,允許承受的電壓、電流均不相同,因此KDB-1型測試儀可為用戶量身定制各種特定探針壓力及曲率半徑的探針頭,儀器的測試電流分7檔,可由0.4μA增加到大為1000mA,測試電壓可由8V增加到80V,測試電壓和測試電流均可連續調節,給薄膜、涂層的研制者提供了一個摸索測試條件的寬闊空間。
由于儀器設有恒流源開關,并且所有電流檔在探針與樣品接觸后均有電流延時接通的功能,充分保護了樣品表面不會因為探針接觸時產生的電火花而受到損壞。
儀器性能
方阻測量范圍:1×10-5~2×106Ω/□,小分辨率1×10-5Ω/□;
電阻率測量范圍:1×10-6~2×105Ω·cm或1×10-8~2×103Ω·m,小分辨率1×10-6Ω·cm或1×10-8Ω·m;
探針壓力:25g~250g;
探針曲率半徑:25μm~450μm
(注:探針壓力及曲率半徑可根據薄膜材料性能及用戶需求定制);
測試電流分7檔:1μA、10μA、100μA、1mA、10 mA、100 mA、1000 mA;
測試電壓:(1μA~10 mA檔)12~80V連續可調
(100mA檔) 8~36V連續可調
(1000mA檔) 8~15V連續可調;
測量方式:手動或自動(配置測試軟件);
測量對象:導電薄膜、半導體薄膜、電力電容器鋁箔、各種金屬箔、銀漿涂層、鋰電池隔膜等各種新型電子薄膜;各種半導體材料的電阻率。
產品名稱:聲級計 噪音計 噪聲計 產品型號: TES-1351B |
聲級計 噪音計 噪聲計 型號: TES-1351B
標準: IEC 61672-1Class2和ANSIS1.4 TYPE2
測量范圍: A LO (Low) - Weighting: 35- 95dB
A HI (High) - Weighting:65-130dB
C LO (Low) - Weighting: 35- 95dB
C HI (High) - Weighting:65-130dB
解析度: 0.1dB
頻率范圍: 20Hz ~ 8KHz
準確度: ±1.4dB (在參考音壓位準, 94dB @1KHz)
動態范圍: 65dB
權衡網路頻率: A、C
反應速率: 快速(FAST:125mS) 慢速(SLOW:1second) 脈衡(IMPULSE:35mS)
讀值鎖定: MAX HOLD(下降率 ≤1dB/3分鐘
麥克風: 化電容式麥克風
校 正: 內部94.0dB校正
輸 出: AC約0.55Vrms(每范圍檔),輸出阻抗600ΩDC約10mV/dB (nominally)
輸出阻抗: 100Ω
操作溫濕度: 0℃ ~40℃ 10%RH~ 80% R. H.
儲存溫濕度: -10℃~+60℃ -10%RH~75% R.H.
顯示器:4位數LCD顯示音量位準dB(分貝),過范圍指示"OVER",低電池電力"BT"符號指示.
電 源: 單一9V電池,006P或NEDA1604或IEC6F22
尺寸及重量: 240mm(L)x68mm(W)x25mm(H)&215g
標準附件: 皮套,測試棒,電池,使用說明書